第六章：芯片已好，正在测试！ (2/2)
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“呼！”
苏川深深的吐了一口气。
这一步的过程是每块芯片都需要经历的过程。
同样也是鉴定每块芯片合格与否的重要参数！
他将这一块芯片小心翼翼的放入测试板。
这块芯片上所有的凹槽与测试板上凸起的部分完美的吻合。
紧接着，接通电源！
伴随着机械，以及散热的声音响起。
这块芯片居然有条不紊的正常运行了起来。
苏川嘴角也微微上扬了起来。
不过，这只是最初级的测试。
他并没有高兴的太早。
真正关键的部分，还在后面。
在测试板的运转下，这块芯片很快就开始散发出大量的热量。
在监视器上，这块芯片的温度甚至超过了120度！
紧接着，各种参数结果也在监视器上缓缓的跳转定格。
苏川呼吸急促起来。
这些数据，才是判定芯片优劣的最重要的东西！
他的目光死死的盯着监视器。
很快，他的面容情绪凝固了起来。
芯片的核心频率在高负荷的运作下，按理而言应该步步攀升。
可是在到达某个临界点之后，核心频率却突然戛然而止！
苏川心中一沉。
出问题了！
而且问题很大！
这个核心频率，以及这块芯片目前发挥出来的性能，根本就不是一块1纳米芯片应有的性能。
甚至，不足自己预估结果的百分之一！
一块1纳米级别的芯片居然比自己前世制作的90纳米芯片性能没好出多少。
这显然是极为不合理的？
苏川心中异常的冷静。
究竟是哪里出现了问题？
接口问题？协议问题？
不对！
仅仅是这些，也绝对不可能抑制1纳米芯片的强大性能。
通过监控器上的数据，这片芯片确实已经运行到了负荷。
难道是半导体芯片集成出现了问题？
苏川百思不得其解。
犹豫了许久，他想到了民科吧。
这东西，不得问一下民科吧的大佬们？
飞卢小说，飞要你好看！
本章完